奥林巴斯CIX100检测系统是一个专门的交钥匙解决方案，适用于对所制造部件清洁度保持高质量标准要求的制造商。快速获取、处理和记录技术清洁度检测数据，以符合公司和国际标准的要求。该系统直观的软件可指导用户完成该过程的每个步骤，因此，即使是新手操作员，也可以快速轻松地获取清洁度数据。
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保证部件、工件和流体具有合格的清洁度是制造过程的核心所在。在对大多为微米级尺寸的污染物和异物进行计数、分析和分类的过程中达到高标准，对于产品的开发、制造、生产和质量控制等各种工作流程都至关重要。各种国际和国家指令对于如何确定基本加工零件上颗粒污染的方法和记录要求都有描述，因为颗粒污染会直接影响工件和部件的使用寿命。目前的标准要求提供有关污染性质的详细信息，如颗粒的数量、粒度分布和颗粒特性。
奥林巴斯CIX100清洁度检测系统旨在满足现代工业以及国家和国际指令对清洁度的要求。
标准的清洁度检测流程：准备（第1-3步）和检测（第4-6步）。第1步：提取，第2步：过滤，第3步：称重，第4步：检测，第5步：审核，第6步：结果。
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硬件和软件无缝集成，打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。
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创新的一体化扫描解决方案检测反光（金属）和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。 即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。
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借助强大的、易于使用的工具修改检测数据，支持公司和国际清洁度检测标准。 清晰呈现所有相关的检测结果，节省时间。
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一键式报告制作方式符合国际标准中阐述的要求和方法。报告可以定制（例如，包括颗粒形态），从而可轻松满足不同公司的特定标准。
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奥林巴斯CIX100系统是一个整体解决方案，目的是满足用户对自动化清洁度检测的需求。每个组件都经过优化，以确保准确性、可再现性、可重复性和无缝集成特性，使这款高效率系统提供可靠的数据。该系统为圆形和矩形样品区的快速检测提供了出色的光学性能。关键任务的自动化有助于加快检测速度，同时还可尽量减少人为错误和样品污染的风险。
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1.可再现的成像条件（摄像头盖） |
CIX100系统支持各种具有圆形或矩形检测区域的样品架。这包括用于直径为25 mm、47 mm和55 mm的滤膜的白底或黑底支架；用于胶带提取法采样的支架；用于冶金应用的平面支架；以及用于颗粒捕集器的支架。
白底和黑底圆形样品架，用于直径为25 mm（左）、47 mm（中）和55 mm（右）的滤膜。
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用于颗粒捕集器的样品架 |
用于胶带提取法采样的样品架 |
CIX100系统提供了一个批处理模式，用于一次检测多个样品。可以对扫描进行类似的检测配置，也可以对每个样品进行单独设置。检测结束后，可以分别审核每个样品的结果并生成报告。
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清洁度检测的工作流程非常简单，因此即使是没有经验的操作人员也可以获得准确、可重复的结果。预先配置和预先校准的系统、用户权限管理和定期系统自检有助于确保设置正确，并在不受操作人员和系统的影响下获得可再现性检测数据。因此，多个部门和站点可以在不同地点应用相同的质量标准。 图中通过使用过程性能指数（Ppk）验证测量的稳定性和可重复性，说明了CIX100的精度。在5X和10X放大倍率下对同一样品进行10次测量，并根据常规大小等级提取颗粒计数。图中显示了对E级（50-100 μm）Cpk和Ppk的评估。 |
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奥林巴斯UIS2物镜实现了很高的光学性能，可实现出色的测量和分析准确度。其专用的光源可以保持为清洁度检测而优化的一致色温。 |
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预先配置和预先校准系统具有通知系统进行自动自检的提醒功能，集成校准片有助于保持系统的定期验证。 |
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光路对准、电动物镜转换器和摄像头都有盖子保护，可防止意外改装。为了保证稳定性，已去除光路中的所有活动部件。 |
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奥林巴斯CIX100系统可在整个检测过程中持续发挥高水平的检测性能和工作效率，可使各种经验水平的操作人员轻松完成技术清洁度检测。系统软件为整个清洁度检测过程提供分步指导。直观的工作流程和用户权限管理提高了工作效率，并使操作人员对检测结果充满信心，同时还缩短了检测周期，降低了每次检测的成本，减少了人为失误。因此可以说，这是一款经过优化，可达到严格质量标准的系统。 结构清晰的用户界面不仅使清洁度检查具有可重复性和再现性，而且对于专家和非专家来说，都很方便。 |
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直观的工作流程将检测过程分为三个简单的步骤，指导用户完成检测：检测样品、审核结果和创建报告。从扫描样品到创建符合要求的报告，大程度的自动化提高了每个步骤的易用性，因此，各种经验水平的用户都可以进行高效的检测并生成可靠的数据。 界面上直观的说明将引导操作人员逐步完成整个检测过程。这是一个快速、高效的工作流程。 |
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预先配置、预先校准的系统配有直观的用户界面，可帮助各种经验水平的操作人员轻松完成清洁度检测。 系统会提醒定期进行自动系统检查，从而获得精确的结果；而预先配置和自定义的系统配置支持操作人员的日常使用。 |
显微镜模式可使您退出专门的清洁度检测工作流程，进行显微成像。通过选配不同的材料分析解决方案，可以增加显微镜模式的功能，如晶粒截点法、晶粒平面法、铸铁、夹杂物评定至恶劣视场法、层厚度、枝晶臂间距、物相分析、孔隙率和涂层厚度。
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所有的数据都会自动保存。用户可以快速访问所有已归档的样品及其相关的数据和报告，以进行审核或分发。 |
管理员可以控制哪些用户可以访问系统的哪些部分的权限。这样，缺乏经验的用户就只能执行分配给他们的任务。重要的是，他们不会影响关键参数，如校准参数和为自动生成报告而选择的数据。
管理员可以访问整个系统设置（上图），而没有经验的用户仅限于访问基本的工作流程（下图）。
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通过触摸技术实现高性能 |
界面上显示有较大的按钮，使用鼠标点击或手指轻触可以轻松选择这些按钮。 |
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检测配置用于指定样品检测的所有参数，包括颗粒表征、设置颗粒种类和类型的规则。 CIX100系统在交付时已经进行过配置和校准，但您可以根据您的应用和要求轻松进行对其进行修改和自定义。 |
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奥林巴斯CIX100系统采用了已获专利的*偏振方法，可在单次扫描中对大小从2.5 μm至42 mm的反光颗粒和非反光颗粒同时进行高性能图像采集和精确的实时分析。使用这种一体化扫描解决方案，完成扫描的速度比传统方法（Inspector系列）提高了一倍。在扫描的同时，实时显示计数和分类的颗粒，并将颗粒按大小分级，有助于即时做出决策，并在检测失败的情况下迅速采取补救措施。 在检测过程中，所有相关数据在单个屏幕上实时显示，使操作人员能够在测试失败时停止或中断检测。 |
一种基于波长分离和颜色的创新型偏振方法，可在单次扫描中探测到反光颗粒（金属）和非反光颗粒。这种集成到显微镜架中的高效率设计，可将扫描的速度提高到传统方式（Inspector系列）的两倍，而且还消除了光路中的活动部件，例如可能会对系统稳定性产生负面影响并导致出现潜在错误结果的偏光镜。这种一体化扫描技术增加了被测颗粒的数量，降低了每次检测的成本，还可在检测失败时使检测人员立即采取应对措施。
1：经典方法，2：单次扫描方法
（1-1：非反光颗粒的第一幅图像，1-2：反光颗粒的第二幅图像，2: 单次扫描解决方案：组合）
一种创新型偏振方法，可在单次扫描中探测到反光颗粒（金属）和非反光颗粒。
激活真彩色模式可使用户以其实际颜色查看颗粒，同时提供其他信息，以将颗粒类型标识为金属或非金属。
一体化扫描在偏振中将所有反光颗粒显示为蓝色，表明这些颗粒是金属颗粒。在真彩色模式下，将忽略反光颗粒的蓝色，而所有颗粒的真实颜色将显示在明场图像中。实际上是蓝色的材料仍然是蓝色的，而金属则显示其金属光泽和该材料的典型反射。
通过这些有用的视觉效果，用户可以更好地了解每个颗粒的性质，并快速确认颗粒类型。
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系统在探测和分析过程中看到的颗粒。蓝色表示该颗粒是金属。 |
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使用U-ANT滤膜和颜色校正模式，以真彩色显示在审核模式期间看到的相同颗粒。证实颗粒为金属颗粒。 |
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在开始检测样品时创建样品概览图像，以低倍率显示整个滤膜。概览图像有助于在开始检测样品之前，识别滤膜的覆盖范围或颗粒簇。 概览图像有助于评估滤膜范围、颗粒簇或差颗粒，使用户可以在检测开始前迅速应对。 |
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用于指定样品检测的所有参数的检测配置。 样品信息区中列出了重要的数据。 |
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污染物被自动分析，然后分类到由所选标准定义的大小等级栏中，并用颜色编码，以清楚地表明哪个大小等级的颗粒超出了预先定义的极限。系统提供一个统计控制图表功能，可以图表方式直观地表明颗粒等级的合规水平，以提高检测结果的可靠性。 为每个大小等级预先定义的可接受颗粒计数显示在屏幕上，因此甚至在完成整个滤膜的扫描之前，就可以做出合格（OK）或不合格（NOK）的验证评判。当评判结果为不合格（NOK）或检测结束时，声音信号会启动。 |
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根据国际标准，对小颗粒和大颗粒进行实时处理和分类（2.5 µm至42 mm）。 图像拼接可自动重建大颗粒的图像。 在明亮的背景上扫描暗颗粒，或者反过来。 |
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明确查看样品采集的剩余时间。 |
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所有颗粒和分类表、整体清洁度代码、颗粒位置和使用的标准均显示在一个视图中。 |
奥林巴斯CIX100系统配备了各种强大、易于使用的工具，可在提供指导的快速颗粒审核过程中修改检测数据。一键式重新分类功能具有很大的灵活性，并支持国际标准。系统探测到的每个污染物的缩略图都与相应的维度测量值链接起来，方便了对数据的审核。检索污染物的信息非常简单。在审核过程中，结果会自动更新并显示在所有视图和按大小分类的分类栏中。这样既可以清晰显示所有相关的检测结果，又节省了时间。 |
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不同颗粒视图的可视化，例如：反光颗粒或非反光颗粒 |
图像、数据和结果的清晰排列，以便立即做出再处理决策。在可选择的各种视图中，完整的检查数据一目了然。查看所有种类的颗粒（反光或非反光）的图像，从大到小排列。 |
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根据存储的颗粒位置信息，载物台直接在选定的颗粒位置上重新定位，以进行进一步的研究和修改，例如使用景深扩展成像（全焦图像，EFI）或为高度测量定制的解决方案。 |
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可以随时间推移进行数据统计分析，并以图形方式显示。 |
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可以为污染物拍摄单张图像，并进行处理，以进行手动测量确认并改进文档。 |
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查看所有种类的颗粒（反光或非反光）的图像，从大到小排列。 |
污染物的缩略图图像可以方便地与其位置和尺寸关联。选择某个缩略图会使系统自动转到相关的污染物。 |
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分类和颗粒表根据所选标准列出结果。 |
分类和颗粒表分别根据所选标准和颗粒数据显示结果。 |
根据汽车和航空航天行业使用的所有主要国际标准进行评估，包括：
ASTM E1216-11:2016
ISO 4406:2021
ISO 4407:1999
ISO 4407:2002 [累积和差分]
ISO 11218:1993
ISO 12345:2013
ISO 14952:2003
ISO 16232-10:2007（A、N和V）
ISO 16232:2018（A、N和V）
ISO 21018:2008
DIN 51455:2015 [70%和85%]
NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986
NF E 48-655:1989
SAE AS4059:2011
VDA 19.1:2015（A、N和V）
VDA 19.2:2015
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根据所选标准，即时计算和显示总体分类污染等级代码（CCC）。 |
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不同的清洁度代码 |
只需单击一下，即可根据所有标准重新计算结果。 |
操作人员可以轻松修改自己的检测数据。强大的软件工具，如删除、分割和合并，使修改数据变得简单。
CIX100系统的景深扩展成像（EFI）功能可采集高度超出物镜焦深的样品的图像，并将这些图像堆叠在一起，创建全焦图像。由1个20X物镜和特殊软件组成的高度测量解决方案，进一步增强了系统的性能，可满足VDA 19对高度测量的要求。对于选定的颗粒，可通过自动或手动方式进行高度测量。在结果表中，计算出的高度值作为附加数据项列出。
根据汽车和航空航天行业使用的所有主要国际标准进行评估。公司还可以灵活制定自己的评估标准。
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符合国际标准的报告。 |
智能、成熟的报告工具可轻松实现检测结果的一键式数字记录。报告制作基于符合行业标准的预定义模板，还可轻松修改，以满足用户公司的需求。可将结果导出到Microsoft Word文件中，也可直接导出为PDF文件，以便通过电子邮件轻松共享数据。报告模板和数据共享工具可帮助缺乏经验的操作人员快速创建和分发准确、专业的文件。奥林巴斯CIX100系统还可以对报告和数据进行存档，以进行记录保存和趋势分析。 |
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报告制作基于符合行业标准的预定义模板，还可轻松修改，以满足用户公司的需求。 |
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分析报告依从分析过程中使用的标准。 |
根据分析过程中使用的标准，显示可用的模板列表，即使是没有经验的操作人员也能快速创建符合标准的报告。 |
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该软件支持MS Word、PDF或Excel等输出格式。 |
导出报告易如点击鼠标。根据您的偏好，以Microsoft Word或PDF格式创建报告，并将颗粒和分类结果以及趋势分析轻松导出到Microsoft Excel。报告文件大小经过优化，可实现高效数据共享。 |
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快速访问所有已归档的样品及其相关的数据和报告，以进行审核或分发。所有检测数据和报告都会自动保存，并在一定时间内存档。 在多年后证明决策合理性的能力。 |
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报告的信息页 |
报告的这一区域包含样品的信息，如客户、检验员、订单号和检验日期。所有数据都是自动插入的。 |
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由于扫描过程中检测到的大颗粒是非常重要的， 因此本报告部分列出了检测过程中发现的十个大颗粒。 |
报告的这一部分包含了根据所用标准在检测过程中计算的数据，并显示了诸如尺寸等级和范围信息，以及检测到的颗粒绝对数量和污染等级等信息。 |
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显示大颗粒图像的结果页 |
大颗粒的缩略图与颗粒参数和颗粒等级一起显示。缩略图还显示了通过将较小图像拼接在一起而重建的污染物图像。 |
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内镜系统
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